ZK-1磚用卡尺是滿足GB2542－2003《砌墻試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)的量具，磚用卡尺用于磚瓦生產(chǎn)企業(yè)、磚瓦質(zhì)檢部門對燒結(jié)普通磚、燒結(jié)多孔磚、空心磚和空心砌塊磚、燒結(jié)粘土磚、免燒磚、粉煤灰磚、爐渣磚和碳化磚等的砌墻磚外形尺寸、彎曲、雜質(zhì)凸出的測量。
磚用卡尺用來測量墻體材料尺寸偏差是一項直接對砌筑施工及砌體墻體材料質(zhì)量產(chǎn)生影響的重要指標(biāo)。規(guī)格尺寸達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)要求，如墻體材料規(guī)格尺寸偏大、偏小，或同一批墻體材料制品尺寸大小不一，在砌筑 墻體材料時可能出現(xiàn)以下問題：制品實(shí)際砌筑用量和設(shè)計計算用量有很大出入；砌筑時墻體材料制品與墻體材料制品之間的灰縫寬度不能保持一致，寬窄不一；一（皮）層 墻體材料制品鋪貼后鋪貼面不平整，高低不一；偏差過大砌筑成墻體材料后，輕則使建筑設(shè)計計算和預(yù)算方面增加不確定性，重則對結(jié)構(gòu)產(chǎn)生大量的不均勻砌筑，影響結(jié)構(gòu)承載，并會大幅度降低建筑物抗震性能。國家標(biāo)準(zhǔn)對制品的尺寸偏差所涉及的長度、寬度、高度（層厚）作了詳細(xì)的規(guī)定。
磚瓦檢測儀器：TH-W型磚碳化試驗(yàn)箱、SP-256型磚立式收縮膨脹儀、DR-2A（B）型磚凍融試驗(yàn)箱、ZSX—51型磚瓦爆裂蒸煮箱、ZFX—51型自控磚瓦泛霜箱、ZDE-20/50磚瓦抗折機(jī)、ZK-1型磚用卡尺、CIT-3000F型低本底多道γ能譜儀、QZ型切磚器。
磚用卡尺適用于墻體材料外觀質(zhì)量
墻體材料外觀質(zhì)量是直接影響砌筑施工墻體材料和砌體墻體材料質(zhì)量的另一重要指標(biāo)。產(chǎn)品常見的外觀質(zhì)量缺陷有：墻體材料表面的雜質(zhì)凸出、完整面、墻體材料表面疏松、層裂， 墻體材料缺棱掉角、裂紋、墻體材料無完整面、彎曲、墻體材料肋壁內(nèi)殘缺、欠火、酥啞、雨淋等；裝飾用時還有飾面色澤、花紋、墻體材料顏色等外觀質(zhì)量要求；外觀質(zhì)量不嚴(yán)重時，只對砌筑進(jìn)度、 墻體材料表面（觀）質(zhì)量有影響，墻體材料外觀質(zhì)量嚴(yán)重超標(biāo)時，同樣會增加建筑墻體材料施工，如壘面、抹灰方面的工程成本。重則同樣會對結(jié)構(gòu)產(chǎn)生大量的不均勻砌筑，影響結(jié)構(gòu)承載及大幅度降低建筑物抗震性能。而欠火、酥啞、雨淋 墻體材料制品如果達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)要求，將對砌筑墻體材料產(chǎn)生的后果則更為嚴(yán)重，輕則幾年內(nèi)墻體風(fēng)化損毀，重則會造成建筑坍塌的嚴(yán)重惡性事故。因此，國家標(biāo)準(zhǔn)對上述指標(biāo)都做出了嚴(yán)格規(guī)定。
ZK-1磚用卡尺簡介
滿足GB2542－91《砌墻試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)的量具，用于磚瓦生產(chǎn)企業(yè)、磚瓦質(zhì)檢部門對砌墻磚外形尺寸、彎曲、雜質(zhì)凸出的測量。
彎曲量測量范圍 －15～＋30mm 精度0.1mm
外形尺寸測量范圍 45～247mm 精度 0.5mm
磚用卡尺是北京中科路達(dá)試驗(yàn)儀器有限公司的主打產(chǎn)品,質(zhì)量可靠,性能*,廣泛應(yīng)用于各質(zhì)檢中心,大學(xué)院校,施工單位,歡迎選購北京中科路達(dá)試驗(yàn)儀器有限公司的磚用卡尺
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